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Product Center
  • 掃描熱學(xué)顯微鏡

    掃描熱學(xué)顯微鏡驅(qū)近系統(tǒng)的機(jī)械設(shè)計(jì)可使得經(jīng)過幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測區(qū)域。掃描位移大約為500nm,這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號(hào):
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  • VertiSense掃描熱學(xué)顯微鏡

    掃描熱學(xué)顯微鏡:本設(shè)備通過使用特殊帶熱電偶的針尖,掃描樣品時(shí),熱電偶的溫度,通過熱信號(hào)成像放大器,通過AFM處理,同時(shí)得到熱成像圖和形貌圖??梢缘玫蕉繙囟确植汲上駡D,和定性熱導(dǎo)率分布圖。針尖的設(shè)計(jì),可以達(dá)到小于50nm的熱空間分辨率。

    更新時(shí)間:2024-06-17
    產(chǎn)品型號(hào):VertiSense
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